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Home製品・サービス情報試薬・材料・消耗品>Nu Nano社製 SPMプローブ

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Nu Nano社製品
SPMプローブ

Nu Nano社(イギリス)は、SPM/AFM用プローブの設計と製造を専門にしています。30年以上の経験と技術を積み重ねてきた独自の微細加工プロセスにより、微細な寸法公差でプローブを製造しています。


窒素ケイ素プローブ

大気中または液体中のいずれかでコンタクトモードまたはACモードを使用して、ソフトサンプルをイメージングするのに適しています。窒素ケイ素カンチレバーの裏面に反射性金コーティングをしたシャープなシリコンティップをそなえています。ほぼすべてのAFM装置と互換性があります。

SENSE-20 5nmのTi接着層+40nmのAuコートです。
・ばね定数: 0.07 N/m
・共振周波数: 20kHz
SENSE-70 5nmのTi接着層+40nmのAuコートです。
・ばね定数: 0.4 N/m
・共振周波数: 70kHz

◆価格・ラインナップ
製品名 裏面コート サイズ 税別価格 カタログ#
窒化ケイ素プローブ Au 10chips お問合せ SENSE-20
Au 10chips お問合せ SENSE-70


導電性プローブ

Spark 350 Pt: ACモード(タッピング)での電気特性評価に最適です。5nmのTi接着層+40のPtコートです。
 ・ばね定数: 42N/m
 ・共振周波数: 350kHz
Spark 150 Pt: ACモード(非接触/タッピング)での電気特性評価に最適です。5nmのTi接着層+40のPtコートです。
 ・ばね定数: 18N/m
 ・共振周波数: 150kHz
Spark 70 Pt: コンタクトモードとACモード(ノンコンタクト/ソフトタッピング)の両方の電気特性評価に最適です。
5nmのTi接着層+40のPtコートです。
 ・ばね定数: 2N/m
 ・共振周波数: 70kHz

◆価格・ラインナップ
製品名 裏面コート サイズ 税別価格 カタログ# データシート
導電性プローブ Pt 10chips お問合せ SPARK-350-PT
Pt 10chips お問合せ SPARK-150-PT
Pt 10chips お問合せ SPARK-70-PT


シリコンプローブ

SCOUT-350シリーズ:硬質サンプルおよびソフトサンプルの大気中でのノンコンタクト/タッピングモード測定に最適です。
 ・ばね定数:42N/m
 ・共振周波数:350kHz
SCOUT-70シリーズ:ソフトサンプルの大気中でのノンコンタクト/ソフトタッピングモードおよび力変調モード測定に最適です。
 ・ばね定数:2N/m
 ・共振周波数:70kHz

◆価格・ラインナップ
製品名 裏面コート サイズ 税別価格 カタログ# データシート
汎用プローブ - 10chips お問合せ SCOUT-350
汎用プローブ Al 10chips お問合せ SCOUT-350-RAl
汎用プローブ Au 10chips お問合せ SCOUT-350-RAu
高アスペクト比プローブ - 10chips お問合せ SCOUT-350-HAR
高アスペクト比プローブ Al 10chips お問合せ SCOUT-350-HAR-RAl
高アスペクト比プローブ Au 10chips お問合せ SCOUT-350-HAR-RAu
汎用プローブ - 10chips お問合せ SCOUT-70
汎用プローブ Al 10chips お問合せ SCOUT-70-RAl
汎用プローブ Au 10chips お問合せ SCOUT-70-RAu
高アスペクト比プローブ - 10chips お問合せ SCOUT-70-HAR
高アスペクト比プローブ Al 10chips お問合せ SCOUT-70-HAR-RAl
高アスペクト比プローブ Au 10chips お問合せ SCOUT-70-HAR-RAu


Ultra ソフトプローブ

NuVOCプローブは、超低応力シリコン窒化物から製造されるチップレスプローブです。ばね定数が、0.003-6000pN/nm の範囲にあります。
これらのプローブは、標準的なシリコンチップ上に、50、100および200nm シリコン窒化物の厚さです。基本的には従来のAFM装置などの使用に適応していません。代わりに、カンチレバーに作用する横方向または剪断力を検出することのできる装置において、垂直方向に動作します。
 ※価格、仕様については、お問合せください。


スキャンイメージ

サンプル:C60クラスター
プローブ:SCOUT 350R
装置:Agilent SPM 5500
撮影提供:Ms. Andrea Huttner, Dr. Tobias Breuer, and Prof. Dr. Witte, University of Marburg, Germany.
サンプル:自己組織化微細構造
プローブ:SCOUT 350R
装置:Bruker Multimode 8 AFM
撮影提供:Dr. Georg Haehner and Mr. David Jones, University of St. Andrews, UK.

サンプル:SRAMテスト構造
プローブ:SCOUT 70R
装置:Bruker Dimension Edge AFM
撮影提供:Dr. Filip Gucmann, University of Bristol, UK.
サンプル:PTFE分子
プローブ:SCOUT 70R
装置:JPK NanoWizard
撮影提供:Dr. Nic Mullin, University of Sheffield, UK.

サンプル:Au(111)上のC06
プローブ:SCOUT 350R
装置:Asylum Research Cypher AFM
撮影提供:Dr. Vladimir Korolkov & Prof. Peter Beton, University of Nottingham, UK.
サンプル:ヘプタセンベースのクリスタリット
プローブ:SCOUT 350
装置:Digital Instruments NanoscopeIII AFM
撮影提供:Dr. Aleksandar Matkovic, Aydan Cicek, Dr. Markus Kratzer & Prof Dr. Christian Teichert, Montanuniversitat Leoban, Austria.

サンプル:半導体ナノファイバー
プローブ:SCOUT 350
装置:Bruker Dimension 3100 AFM
撮影提供:Dr. Piotr Wolanin, Prof. Charl Faul & Prof. Ian Maners, University of Bristol, UK.
サンプル:セルロースナノファイバー
プローブ:SCOUT 350R
装置:Bruker Multimode 8 AFM
撮影提供:Dr. Juan Jose Valle-Delgado, Aalto University, Finland.


論文および参考文献

【参考資料】
1.AFMのアプリケーションおよび手法
2.AFMにおける円錐形ティップの優位性
3.AFMにおけるカンチレバーの反射コーティング
4.ラテラル分子力顕微鏡(LMFM)における垂直プローブ

【論文】
・SCOUT 350 Probes
1. Supramolecular networks stabilise and functionalise black phosphorus V.V. Korolkov, I.G. Timokhin, R. Haubrichs, E.F. Smith, L. Yang, S. Yang, N.R. Champness, M. Schröder & P.H. Beton (2017) Nature Communications 8 1385
2. Controlled Layer Thinning and p-type doping of WSE2 by Vapor XeF2 R. Zhang, D. Drysdale, V. Koutsos, R. Cheung (2017) Adv. Funct. Mater., 1702455
3. Supramolecular heterostructures formed by sequential epitaxial deposition of two-dimensional hydrogen-bonded arrays V.V. Korolkov, M. Baldoni, K. Watanabe, T. Taniguchi, E. Besley, P.H. Beton (2017) Nature Chemistry 2824
4. Uniform electroactive fibre-like micelle nanowires for organic electronics X. Li, P.J. Wolanin, L.R. MacFarlane, R.L. Harniman, J. Qian, O.E.C. Gould, T.G. Dane, J. Rudin, M.J. Cryan, T. Schmaltz, H. Frauenrath, M.A. Winnik, C.F.J. Faul, I. Manners (2017) Nature Communications 8, 15909
5. Elastic properties of suspended multilayer WSe2 R. Zhang, V. Koutsos, R. Cheung (2016) Appl. Phys. Lett. 108, 042104

・NuVOC probes
1. Real-time tracking of metal nucleation via local perturbation of hydration layers R.L. Harniman, D. Plana, G.H. Carter, K.A. Bradley, M.J. Miles & D.J. Fermin (2017) Nature Communications 8 971
2. Real-Time Sliding Mode Observer Scheme for Shear Force Estimation in a Transverse Dynamic Force Microscope T. Nguyen, S.G. Khan, T. Hatano, K. Zhang, C. Edwards, G. Herrmann, R. Harniman, S.C. Burgess, M. Antognozzi, M. Miles (2017) Asian Journal of Control 19, (2) 1-12
3. Direct measurements of the extraordinary optical momentum and transverse spin-dependent force using a nano-cantilever M. Antognozzi, C. R. Bermingham, R.L. Harniman, S. Simpson, J. Senior, R. Hayward, H. Hoerber, M.R. Dennis, A.Y. Bekshaev, K.Y. Bliokh, F. Nori (2015) Nature Physics 12, 731–735
4. Small-molecule uptake in membrane-free peptide/nucleotide protocells T.-Y.D. Tang, M. Antognozzi, J.A. Vicary, A.W. Perriman and S. Mann (2013) Soft Matter 9, 7647-7656
5. Self-Assembling Cages from Coiled-Coil Peptide Modules J.M. Fletcher, R.L. Harniman, F.R.H. Barnes, A.L. Boyle, A. Collins, J. Mantell, T.H. Sharp, M. Antognozzi, P.J. Booth, N. Linden, M.J. Miles, R.B. Sessions, P. Verkade, D.N. Woolfson (2013) Science 340, (6132) 595-599
6. Processive behaviour of kinesin observed using micro-fabricated cantilevers T. Scholz, J.A. Vicary, G.M. Jeppesen, A. Ulcinas, J.K.H. Hörber, M. Antognozzi (2011) Nanotechnology 22, 095707



【関連製品】

ハンディ―タイプ UVオゾンクリーナー「UV253MINI」(フィルジェン製)


持ち運びできるコンパクト設計で、スイッチ1つですぐに簡単に使えます。
アプリケーション:プローブに付着した有機汚染物質の洗浄、親水性向上など

(参考文献)

Specific Interaction between GroEL and Denatured Protein Measured by Compression-Free-Force Spectroscipy, Received 14 May 2002, Accepted 12 February 2003, Available online 6 January 2009.
Size-Dependent Affynity of Glycine and Its Short Oligomers to Pyrite Surface: A Model for Prebiotic Accumulation of Amino Acid Oligomer on a Mineral Surface. International Journal of Molecular Science, 25 Jan 2018, 19(2)

(お問合せ先)
フィルジェン株式会社 科学機器部
Phone: 052-624-4388
E-mail:
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